影響電鍍層測(cè)厚儀測(cè)量的因素主要有哪些？

電鍍層測(cè)厚儀分為磁感應(yīng)測(cè)厚儀，電渦流測(cè)厚儀，熒光X射線儀電鍍測(cè)厚儀。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，電鍍層測(cè)厚儀將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。

近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高。磁性原理電鍍層測(cè)厚儀可應(yīng)用來測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

我們的實(shí)際測(cè)量工作中，影響電鍍層測(cè)厚儀測(cè)量的因素主要有以下一些：

一、基體金屬的選擇

基體金屬的選擇于試件的測(cè)試是息息相關(guān)的，首先專業(yè)的電鍍層測(cè)厚儀分有磁性方法和渦流方法，兩種方法對(duì)于電鍍層測(cè)厚儀的基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片都有不一樣的磁性和電性要求，必須要對(duì)號(hào)入座的進(jìn)行測(cè)量匹配，并且基體金屬的厚度對(duì)于我們的測(cè)量也有一定的影響。

二、測(cè)試時(shí)的環(huán)境和條件

電鍍層測(cè)厚儀的測(cè)試本身是非常方便的，它的出現(xiàn)極大的提高了我們對(duì)于產(chǎn)品測(cè)量的效率，但是我們?cè)跍y(cè)量的時(shí)候需要注意到測(cè)量的環(huán)境以及必要的測(cè)量條件，首先我們需要注意測(cè)量時(shí)周圍的磁場(chǎng)環(huán)境，磁場(chǎng)過高或不穩(wěn)定都會(huì)對(duì)我們的測(cè)量數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響，其次潮濕的環(huán)境也是不利于我們的測(cè)量，而基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片與試件本身的一些條件也會(huì)影響到我們的測(cè)量數(shù)據(jù)，例如電鍍層測(cè)厚儀基體金屬片表層的粗糙程度等等。

三、測(cè)量時(shí)的一些其它影響因素

我們?cè)谶M(jìn)行測(cè)量的時(shí)候要注意到試件表面要保持清潔不能有異物遮擋，并且即便是可信賴的電鍍層測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)也都容易受到一些突然變化的影響所以我們要避免在試件的曲面和邊緣進(jìn)行測(cè)量。

我們選擇到了一個(gè)優(yōu)秀的電鍍層測(cè)厚儀并不意味著我們的測(cè)量數(shù)據(jù)就會(huì)一定的準(zhǔn)確，因?yàn)樵跍y(cè)量過程中總會(huì)有一些細(xì)微的影響因素需要我們?nèi)プ⒁猓挥刑幚砗眠@些影響因素才會(huì)使我們的電鍍層測(cè)厚儀能夠真正的發(fā)揮出其應(yīng)有的作用。

林上LS225+F500電鍍層測(cè)厚儀是一款主機(jī)與探頭分離體式設(shè)計(jì)的儀器，探頭最大測(cè)量范圍為500μm，主要可用來測(cè)量鋼、鐵等鐵磁性金屬基體上的鍍銅，鍍鋅，鍍錫以及涂料，清漆，搪瓷等非磁性涂鍍層的測(cè)量，LS225+F500電鍍層測(cè)厚儀特別適合測(cè)試超薄涂鍍層或異形小尺寸材料，還配有專用的測(cè)試夾具供客戶選購。